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Courriel
sales@yd-tek.com
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Téléphone
18013586840
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Adresse
No.1 route ouest de chenghu, secteur de Wuzhong, ville de Suzhou
Suzhou yuden Electronic Technology Co., Ltd
sales@yd-tek.com
18013586840
No.1 route ouest de chenghu, secteur de Wuzhong, ville de Suzhou
Testeur LCR de stahkae 1j6500p
Caractéristiques du produit :
● sept modèles etMise à niveau possible à 120MHz
1J6505PGamme de fréquence 20hz ~ 5MHz
1J6510PGamme de fréquence 20hz ~ 10mhz
1J6515PGamme de fréquence 20hz ~ 15mhz
1J6520PGamme de fréquence 20hz ~ 20mhz
1J6530PGamme de fréquence 20hz ~ 30mhz
1J6550PGamme de fréquence 20hz ~ 50mhz
1J65120PGamme de fréquence 20hz ~ 120MHz
•Testeur LCR de stahkae 1j6500p0,05% Essential fineDegrés, résolution de fréquence ≤ 1mhz
• Fonctionnement facile de l'écran tactile TFT, facile à atteindre en 10 minutes
• solutions de test de diélectriques, de plaques piézoélectriques et de cristaux de quartz
• < 30 MS mesure automatisée peut être combinée avec test Charter
• technologie à quatre fils à haute fréquence pour mesurer des valeurs RS extrêmement basses, RDC équivalentes et q élevées
• signal AC intégré: 10mv ~ 1vrms, 200μa ~ 20marms. Signal de polarisation intégré DC: 0 ~ 100mA / 0 ~ + 40v ou - 40v ~ + 40v (en option). Wk6565 haute fréquence DC source de courant de polarisation à 40amp peut être ajouté
• Interface d'exploitation unifiée à quatre modes, hander connecte des périphériques de tri automatisés, Lan, interface de communication logicielle en ligne pour ordinateur gpib
• peut fonctionner avec la souris et le clavier, peut également ajouter une imprimante de liste et utiliser une clé USB pour enregistrer des données, tester des images
• Conception britannique, accepte les exigences de mise à niveau logicielle et matérielle et de personnalisation
● paramètres de test:
Capacité (c), inductance (l), résistance (R), conductance (g), nanomètre (b), réactance (X), facteur de perte (d), facteur de qualité (q), impédance (z), admittance (y), angle de phase (θ), constante diélectrique (ε ')𝑟Partie réelle de permittivité relative, ε 'R partie imaginaire de permittivité relative, dε pertes diélectriques relatives), Perméabilité magnétique (μ'𝑟Perméabilité magnétique relative partie réelle, μ'r Perméabilité magnétique relative partie imaginaire, perte de Perméabilité magnétique relative dμ)
Introduction aux fonctions:
Paramètre de spécification:
modèle |
1J6505P |
1J6510P |
1J6515P |
1J6520P |
1J6530P |
1J6550P |
1J65120P |
Gamme de fréquences |
20Hz à 5MHz |
20Hz à 10MHz |
20Hz à 15MHz |
20Hz à 20MHz |
20Hz à 30MHz |
20Hz à 50MHz |
20Hz à 120MHz |
paramètre |
ZEt,θRae, Rdc(eq), C, D, L, Q, B, G, X, Y,εdu rEt,εdu ret Dεet µ′ravec µ"r, Dµ |
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Précision de base |
0,05% |
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Résolution de fréquence |
≤1 mHz |
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Source de signal alternatif |
10 mV~ 1Vrms ; 200uA à 20mArms* |
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Résistance interne de l'instrument |
50Ω |
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Source de signal à chevauchement DC |
Intégré: 0 ~ 100mA / 0 ~ + 40v ou - 40v ~ + 40v (en option), peut ajouter wk6565: 0 ~ + 40A (en option), 10amp / set,Quatre unités disponibles, 40amp |
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Plage d'essai (norme britannique) |
Z, R, X 0,01 mΩ ~> 2GΩ D, Q 0,00001 ~> 1000 C 1fF ~> 1F G, Y, B 0,01nS~2kSθ -180° ~ + 180°L 0,1 nH~> 2 KH |
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Interface de communication |
GPIB、 Lan, Handler (en option) |
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Mode de test |
Mode compteur (affichage des valeurs de test), test de fréquence de résonance, valeurs de test / valeurs d'écart, données de test stockées au format BMP, sauvegarde de captures d'écran, test automatique en plusieurs étapes (en option), sélection de classification (en option), test de résonance * oscillateur rapide / élément piézoélectrique (en option) |
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Sauvegarde du programme |
20 groupes intégrés, mémoire USB externe, nombre illimité de groupes de sauvegarde |
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Paramètres intégrés |
Utilisez l'alimentation 90vac ~ 264vac (commutation automatique); 47Hz~63Hz, Écran tactile TFT 8,4 "VGA (640x480), température 0 ℃ ~ 40 ℃ (fonctionnement), - 20 ℃ ~ + 60 ℃ (stockage), 18 ℃ ~ 28 ℃ (température normale précise), humidité relative≤80%, dimensions (mm) 190 / H X 440 / W X 525 / D, poids 13,8 kg |
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Equipé en Standard:
Unité principale, Manuel d'utilisation, cordon d'alimentation, appareil de test 1j1011, clé USB, stylet
Optionnellement équipé:
/ B1Carte de tri / M Multi - step test tri mode / carte de tri à couplage optique B2
/ D1 0 à + 40Vdc / 0 à + 100mADC intégré polarisé / D2 - 40v à + 40v DC intégré polarisé
WPC et NFCProtocole d'essai:
WPCConditions de test du module |
NFCConditions de test du module |
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Fréquence de test: 100khz - 500khz Paramètres d'essai: L ~ 10uh Q> une certaine figure Rs≥30mΩ Gamme de fréquence d'auto - résonance: 2mhz ~ 15mhz Courant de polarisation DC saturé: 1a ~ 10A |
Fréquence de test: 13,56 MHz Paramètres de test: L, q ou RS Perméabilité magnétique: µ'&µ' à 13,56 MHz Courant de polarisation DC saturé: 1a ~ 10A |
Agent de sanke: Suzhou yuden Electronic Technology Co., Ltd
Nos avantages: Stanke, Yude, Tek, solidity, fluke, eidex, Amber, Aino, Changsheng, Tonghui, etc.
Les produits couvrent: oscilloscope, alimentation, multimètre, générateur de signal, testeur de sécurité, testeur LCR, charge électronique, analyseur de réseau, analyseur de spectre, testeur de résistance interne de batterie, enregistreur de température, analyseur de puissance, micro - omètre, fréquencemètre et autres instruments.