Topographie 3D entièrement automatique qui est bon

Topographie 3DAperçu

Rtec en trois dimensionsTopographieFabriqué dans la Silicon Valley en Californie. Il a été utilisé par plusieurs laboratoires, universités et industries. UPsérie4 modes d'imagerie sont combinés sur une seule tête.Possibilité d'exécuter plusieurs tests sur la même plate - forme de test，Il suffit de cliquer sur le bouton pour convertir le mode d'imagerie. Cette combinaison permet d'imager facilement n'importe quelle surface comme une surface transparente, plate, sombre, plate, incurvée, etc. Chaque mode d'imagerie a ses propres avantages etDiversLes technologies sont complémentaires les unes des autres.Cette technologie de consolidation permet non seulement une analyse intégrée des données, mais aussi une réduction des coûts de maintenance et donc une efficacité accrue.

Combinaison de Profilomètres optiques 3D

Interféromètre à lumière blanche

Microscope confocal à disque rotatif

Microscope à champ sombre

Microscope à champ clair

Spécifications principales de la plate - forme

Spécifications du produit

Plate - forme électrique standard 150x150mm (210x310mm en option)

Tourelle standard, tourelle électrique en option

Portée verticale jusqu'à 100mm

Phase d'inclinaison 6 degrés

XYplateformeRésolution 0.1um

Modèle d'épissure automatique

Sigma Head - interféromètre à lumière blanche

Tête lambda - interféromètre à lumière blanche + confocal + champ sombre + champ clair

Application

●Rugosité●Usure du volume●Hauteur des marches●Épaisseur du film●Topographie

Exemples d'images de test

DLC enduit boule rugueuse enduit surface boule ronde meulage spot

Canal microfluidique de biofilm de diamant

Polymère enduit encre marque coin

Rayures de traces de défaillance sur le tapis abrasif aluminium

Disque de canal de puce de trace de défaillance de revêtement

Ci - dessus estSurface tridimensionnelle à double modeProfileurTopographie de l'échantillon pris. En combinant plusieurs technologies optiques sur la même plate - forme, le testeur peut mesurer presque n'importe quel type d'échantillon de résolution nm. Cette surfaceContourL'appareil est équipé d'un logiciel d'analyse puissant qui répond à de nombreux critères. Surface tridimensionnelle à double modeContourL'appareil est capable d'exécuter plusieurs tests sur la même plate - forme de test et la combinaison de produits peut être modifiée en fonction des différentes exigences techniques de l'application. Différents modes de détection expérimentale sont possibles pour la même zone de l'échantillon et la commutation de mode peut être automatisée. L'intégration de plusieurs technologies permet aux différentes technologies de tirer pleinement parti de leurs avantages respectifs sur le même détecteur. Cette technologie de consolidation permet non seulement une analyse intégrée des données, mais aussi une réduction des coûts de maintenance et donc une efficacité accrue.