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Courriel
xqjiang@rtec-instruments.cn
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Téléphone
18013892749
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Adresse
Salle 305, 26 Shangdi Middle startup Road, Haidian District, Pékin
Technologie Cie., Ltd de Pékin zhongshinger
xqjiang@rtec-instruments.cn
18013892749
Salle 305, 26 Shangdi Middle startup Road, Haidian District, Pékin
Interféromètre à lumière blancheRésumé:
Rtec est fabriqué dans la Silicon Valley en Californie. Il a été utilisé par plusieurs laboratoires, universités et industries. La série up combine 4 modes d'imagerie sur une seule tête. Capable d'exécuter plusieurs tests sur la même plate - forme de test, il suffit de cliquer sur un bouton pour convertir le mode d'imagerie. Cette combinaison permet d'imager facilement n'importe quelle surface comme une surface transparente, plate, sombre, plate, incurvée, etc. Chaque mode d'imagerie a ses propres avantages et les techniques sont complémentaires les unes des autres. Cette technologie de consolidation permet non seulement une analyse intégrée des données, mais aussi une réduction des coûts de maintenance et donc une efficacité accrue.
Combinaison de Profilomètres optiques 3D
1.Interféromètre à lumière blanche;
2. Microscope confocal à disque rotatif;
3. Microscope à champ sombre;
4. Microscope à champ clair.
Spécifications principales de la plate - forme:
Spécifications du produit:
1. Plate - forme électrique standard 150x150mm (210x310mm facultatif)
2. Tourelle standard, tourelle électrique en option
3. Portée verticale jusqu'à 100mm
4. Phase d'inclinaison 6 degrés
Résolution de la plate - forme 5.xy 0.1um
6. Modèle d'épissure automatique
Tête Sigma -Interféromètre à lumière blanche
Tête lambda -Interféromètre à lumière blanche+ confocal + champ sombre + champ clair
Application
Rugosité; L'usure du volume; Hauteur des marches; L'épaisseur du film; Topographie
Exemples d'images de test:



La topographie de l'échantillon ci - dessus a été prise pour le profileur de surface tridimensionnel à double mode. En combinant plusieurs technologies optiques sur la même plate - forme, le testeur peut mesurer presque n'importe quel type d'échantillon de résolution nm. Ce profilomètre de surface est livré avec un logiciel d'analyse puissant et répond à plusieurs normes. Le profilomètre de surface tridimensionnel à double mode est capable d'exécuter plusieurs tests sur la même plate - forme de test et la combinaison de produits peut être modifiée en fonction des différentes exigences techniques de l'application. Différents modes de détection expérimentale sont possibles pour la même zone de l'échantillon et la commutation de mode peut être automatisée. L'intégration de plusieurs technologies permet aux différentes technologies de tirer pleinement parti de leurs avantages respectifs sur le même détecteur. Cette technologie de consolidation permet non seulement une analyse intégrée des données, mais aussi une réduction des coûts de maintenance et donc une efficacité accrue.